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    關于涂層測厚儀的分類以及測量原理
    發表時間:2018-08-20

    覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。 

    覆層厚度的測量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。 

    X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。 

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